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chroma 3380 VLSI 測試系統，50/100 MHz 測試頻率50/100 Mbps data rate1024 I/O pins (高可至1280 I/O pins)平行測試可達1024
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chroma 3110 雙用單站測試分類機，主要特色：雙用單站測試分類機適用于終端測試或系統功能測試自動進料出料艙的配置及依測試結果自動分類的功能測頭內建氣室
chroma 3112 晶片測試分類機，高信賴度之PnP自動化測試分類機x4 多盤置入自動測試分類* (X/Y/Z/θ)
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