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chroma 3360-D VLSI 測試系統，主要特色：50 MHz 測試頻率32/64 個 I/O 通道8M (標準) /16M (選購) Pattern 記憶體彈性化硬體結構平行測試 : 多 8 DUTsReal Parallel Trim/Match 功能時序頻率測試單位
chroma 3650 SoC 測試系統，主要特色：50/100MHz測試工作頻率512個 I/O 通道(I/O Channel)16M (32M Max.) Pattern 記憶體(Pattern Memory)Per-Pin 彈性資源架構32 DUTS 平行測試功能ADC/DAC
chroma 3772 光伏芯片化學、制程上下貨系統 主要特色：破片率： 0.1%產量： 2400 pcs/hr上貨載具：Cassette下貨載具：Cassette
chroma 8900 電氣產品自動測試系統，主要特色：開放式架構的測試軟件硬件具可擴充性測試鏈接庫可自由編輯測試程序可自由編輯測試項目可自由編輯統計報表使用者授權機制測試紀錄支持條形碼掃描
chroma 5104 高速 LED 燈管線上量測系統，主要特色：每日超過一萬支燈管測試產能支援各類燈管之量測支援JEL801燈管場型量測支援閃頻量測
chroma 58173-FC LED自動測試系統，主要特色：提供*電性測試 (200V/2A) ，可滿足HV及HP測試Chroma大面積光偵測器(量測角度可達148度)半自動精密LED wafer/chip點測設備特殊無鉆孔真空平臺設計特制Edge Sensor具有點測針壓穩定
chroma 58154 ESD 測試系統，主要特色：提供兩種ESD 測試標準 : Human body model and Machine model用戶自定項目: Interval, cycle and polarity are programmable高分辨率 : 5V per-step for Machine model
chroma 58182 Top-view 測試系統，主要特色：可量測白光或 RGB LED Top-view Light Bar 之光均勻性搭載自動影像辨識功能杰出之光學量測表現成功篩檢 ESD 損傷之 LED Light bar可接取 FPC/PCB Light Bar 之平臺
